M. Villa; M. Bruschi; R. Di Sipio; L. Fabbri; B. Giacobbe; A. Gabrielli; F. Giorgi; G. Pellegrini; C. Sbarra; N. Semprini; R. Spighi; S. Valentinetti; A. Zoccoli; C.Avanzini; G.Batignani;S. Bettarini; F.Bosi; G.Calderini; M.Ceccanti; R.Cenci; A.Cervelli; F.Crescioli; M.Dell’Orso;
F.Forti; P.Giannetti; M.A.Giorgi; A.Lusiani; S.Gregucci; P.Mammini; G.Marchiori; M.Massa;
F.Morsani; N.Neri; E.Paoloni; M.Piendibene; A.Profeti; G.Rizzo; L.Sartori; J.Walsh; E. Yurtsev; M.Manghisoni; V.Re; G.Traversi; C.Andreoli; L.Gaioni; E.Pozzati; L.Ratti;V. Speziali; D.Gamba; G.Giraudo; P.Mereu; G.F.DallaBetta; G.Soncini; G.Fontana; M.Bomben;
L. Bosisio; P.Cristaudo; G.Giacomini; D.Jugovaz; L.Lanceri; I.Rashevskaya; L.Vitale; G.Venier, Beam Test Results of 4k pixel CMOS MAPS and High Resistivity Striplet Detectors equipped with digital sparsified readout in the Slim5 Low Mass Silicon Demonstrator, «NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT», 2010, 617, pp. 596 - 600 [Scientific article]
G. Rizzo;C. Avanzini; G. Batignani; S. Bettarini; F. Bosi; G. Calderini; M. Ceccanti; R. Cenci;
A. Cervelli; F. Crescioli; M. Dell’Orso; F. Forti; P. Giannetti; M.A. Giorgi; A.Lusiani; S. Gregucci;
P. Mammini; G. Marchiori; M. Massa; F. Morsani; N. Neri; E. Paoloni; M. Piendibene; A. Profeti;
L. Sartori; J. Walsh; E. Yurtsev; M. Manghisoni; V. Re; G. Traversi; M. Bruschi; R. Di Sipio;
B. Giacobbe; A. Gabrielli; F. Giorgi;G. Pellegrini; C. Sbarra; N. Semprini; R. Spighi; S. Valentinetti;
M. Villa; A. Zoccoli; C. Andreoli; L. Gaioni; E. Pozzati; L. Ratti; V. Speziali; D. Gamba; G. Giraudo;
P. Mereu; G.F. Dalla Betta; G. Soncini; G. Fontana; M. Bomben; L. Bosisio; P. Cristaudo; G. Giacomini;
D. Jugovaz; L. Lanceri; I. Rashevskaya; L. Vitale; G. Venier., Development of deep N-well MAPS in a 130 nm CMOS technology and beam test results on a 4k-Pixel matrix with digital sparsified readout, in: 2008 Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and16th Room Temperature Semiconductor Detector WorkshopConference Record, DRESDEN, IEEE, 2008, pp. 2517 - 2522 (atti di: 2008 Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and16th Room Temperature Semiconductor Detector Workshop, Dresda (Germania), 19 - 25 Ottobre 2008) [Contribution to conference proceedings]
