M. Spurio;
G. Sartorelli;
M. Bonafede;
G. Servizi;
R. Campanini;
L. Patrizii;
P.Fantazzini;
B. Pecori;
D.Cavalcoli;
B.Fraboni;
A.Cavallini;
M. Bruno;
M. Caporaloni;
G. Mandrioli;
F. Casali;
F. Bersani, Laboratori Aperti del Dipartimento di Fisica, 2005. [mostra o esposizione]
M. Basile; L. Bellagamba; M. Brattella;R. Camassi; D. Cavalcoli; G. Cevolani; M. Dalla Vite; G.Dragoni; F. Fusi Pecci; N. Lanconelli; L. Lesca; O. Levrini; G. Lulli; N. Mandolesi; B. Marano; A. Morelli; M.P. Morigi; C. Morigi Govi; P. Pasini; F. Passarella; B. Pecori; F.Prodi; A.M. Rossi; M. Severi; A. Spizzichino; C. Taliani; G. Tofani; L.Valenziano; S. Varano; G. Zanarini, Percorsi di ricerca. La fisica attraversa Bologna, 2005. [mostra o esposizione]
D.Cavalcoli; A.Cavallini; M.Rossi; K.Peter, Minority Carrier Diffusion Lengths
in Multi-crystalline Silicon Wafers and Solar Cells, «DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA», 2004, 95-96, pp. 205 - 210 [articolo]
CAVALCOLI D.; A.CAVALLINI ; M. ROSSI, Mono and multi-crystalline Silicon characterization by Non-Contacting Techniques, «JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY», 2004, 151, pp. G248 - G251 [articolo]
Cavalcoli, D.*; Cavallini, A.; Rossi, M.; Binetti, S.; Izzia, F.; Pizzini, S., Surface contaminant detection in semiconductors using noncontacting techniques, «JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY», 2004, 150, pp. G456 - G460 [articolo]
Cavalcoli, D.; Cavallini, A.; Castaldini, A., EBIC diffusion length evaluation by the moment method, in: Institute of Physics Conference Series, Bristol, United Kingdom, Publ by Inst of Physics Publ Ltd, «INSTITUTE OF PHYSICS CONFERENCE SERIES», 1991, pp. 723 - 726 (atti di: Proceedings of the Conference on Microscopy of Semiconducting Materials 1991, Oxford, Engl,, 1991) [Contributo in Atti di convegno]
Castaldini, A.; Cavalcoli, D.; Cavallini, A., Investigation on electrical contacts on n-type silicon, «DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA», 1991, 19-20, pp. 529 - 534 [articolo]
