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J.L. Wayman; A.K. Jain; D. Maltoni ; D. Maio (a cura di): J.L. WAYMAN, A.K. JAIN, D. MALTONI , D. MAIO (EDS.), Biometric Systems - Technology, Design and Performance Evaluation, NEW YORK, Springer, 2005, pp. 370 . [curatela]
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