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Alberto Santarelli

Professore associato confermato

Dipartimento di Ingegneria dell'Energia Elettrica e dell'Informazione "Guglielmo Marconi"

Settore scientifico disciplinare: ING-INF/01 ELETTRONICA

Pubblicazioni

A.Raffo; A.Santarelli; P. A. Traverso; G. Vannini; F. Filicori, A Small-Signal Parameter Based Metric for Nonlinear Models of Electron Device, in: 2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, «IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAVE SYMPOSIUM DIGEST», 2006, cd-rom, pp. 1101 - 1104 (atti di: International Microwave Symposium, 2006, San Francisco (CA), US, jun 11-16, 2006) [Contributo in Atti di convegno]

V. Di Giacomo; A. Santarelli; A. Raffo; P. A. Traverso; G. Vannini; F.Filicori, Accurate Small- and Large-Signal Predictions Using a Simple, Nonquasi-Static, Empirical Model, in: TARGET DAYS 2006 - Book of Prooceedings, WIEN, FTW, 2006, pp. 63 - 66 (atti di: TARGET DAYS 2006, Frascati (Italy), 16-18 Oct, 2006) [Contributo in Atti di convegno]

P. A. Traverso; A. Raffo; M. Pirazzini; A. Santarelli; F. Filicori, Automated Microwave-Device Characterization Setup Based on a Technology-Independent Generalized Bias System, «IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT», 2006, 55, pp. 1390 - 1396 [articolo]

A. Raffo; A. Santarelli; G. Vannini, Caratterizzazione dinamica in regime di grandi segnali di effetti dispersivi in bassa frequenza in FET III-V, in: Quaderni della Società Italiana di Elettromagnetismo, SEGRATE (MI), Libreria CLUP Soc. Coop., 2006, 2, pp. 143 - 151 (atti di: Tecnologie elettroniche ed elettromagnetiche per lo spazio, Orvieto, 12-14 Aprile 2005) [Contributo in Atti di convegno]

Filicori F.; Santarelli A.; Traverso P.A.; Raffo A.; Vannini G.; Pagani M., Nonlinear RF device modelling in the presence of low-frequency dispersive phenomena, «INTERNATIONAL JOURNAL OF RF AND MICROWAVE COMPUTER-AIDED ENGINEERING», 2006, 16, pp. 81 - 94 [articolo]

Filicori F.; Rinaldi P.; Vannini G.; Santarelli A., A new technique for thermal resistance measurement in power electron devices, «IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT», 2005, 54, pp. 1921 - 1925 [articolo]

A. Santarelli; V. Di Giacomo; A. Raffo; P. A. Traverso; G. Vannini; F. Filicori; V. A. Monaco, A simple non-quasi-static non-linear model of electron devices, in: Proceedings of European Microwave Week, GAAS’05, PARIS, GAAS Association, 2005, pp. 305 - 308 (atti di: European Microwave Week, GAAS’05, Paris (France), Oct. 2005) [Contributo in Atti di convegno]

Lonac J. A. ; Santarelli A. ; Melczarsky I. ; Filicori F., A Simple Technique for Measuring the Thermal Impedance and the Thermal Resistance of HBTs, in: European Microwave Week 2005 - Conference Proceedings, NORWOOD (MA), HORIZON HOUSE, 2005, pp. 197 - 200 (atti di: 13th Gallium Arsenide and other Compound Semiconductors Application Symposium, Paris (France), 3-7 Oct. 2005) [Contributo in Atti di convegno]

Raffo A.; Santarelli A.; Traverso P. A.; Pagani M.; Vannini G.; Filicori F., Accurate modeling of electron device I/V characteristics through a simplified large-signal measurement setup, «INTERNATIONAL JOURNAL OF RF AND MICROWAVE COMPUTER-AIDED ENGINEERING», 2005, 15, pp. 441 - 452 [articolo]

Raffo A.; Santarelli A.;Traverso P. A.; Vannini G.; Palomba F.; Scappaviva F.; Pagani M.; Filicori F., Accurate PHEMT Intermodulation Prediction in the Presence of Low-Frequency Dispersion Effects, «IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES», 2005, 53, pp. 3449 - 3459 [articolo]

P. A. Traverso; A. Raffo; M. Pirazzini; A. Santarelli; F. Filicori, Automated Microwave Device Characterization Set-Up Based on a Technology-Independent Generalized Bias System, in: Proceedings IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC’05), OTTAWA, IEEE Instrumentation and Measurement Society, 2005, pp. 457 - 462 (atti di: IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC’05), Ottawa (Canada), May 2005) [Contributo in Atti di convegno]

Raffo A.; Lonac J. A.; Resca D.; Monaco S.; Santarelli A. ;Vannini G., Comparison of Electron Device Models Based on Operation-specific Metrics, in: IEEE Proceedings of the 17th Asia Pacific Microwave Conference, s.l, IEEE Microwave Theory and Techniques Society, 2005, 4, pp. 2411 - 2414 (atti di: IEEE 17th Asia Pacific Microwave Conference, Suzhou, China, 4-7 Dec. 2005) [Contributo in Atti di convegno]

SANTARELLI A.; PAGANELLI R., Critical Issues in Highly-Linear Power Amplifier Design, in: 2005 IEEE CSIC Symposium Technical Digest, s.l, IEEE Microwave Theory and Techniques Society, 2005, pp. 57 - 60 (atti di: 2005 IEEE Compound Semiconductor IC Symposium, Palm Springs, California, USA, 30 Oct. - 2 Nov. 2005) [Contributo in Atti di convegno]

Resca D.; Cignani R.; Raffo A.; Santarelli A.; Vannini G., Implementation of non-conventional nonlinear models for electron devices in commercial CAD tools, in: European Microwave Week (2005) - Conference Proceedings, NORWOOD (MA), horizon house, 2005, pp. 445 - 448 (atti di: 13th Gallium Arsenide and other Compound Semiconductors Application Symposium, Paris (France), 3-7 Oct. 2005) [Contributo in Atti di convegno]

A. Raffo; A. Santarelli; P. A. Traverso; M. Pagani; F. Palomba; F. Scappaviva; G. Vannini; F. Filicori, Improvement of PHEMT Intermodulation Prediction Through the Accurate Modelling of Low-Frequency Dispersion Effects, in: Proceedings of IEEE 2005 MTT-S International Microwave Symposium, LONG BEACH (CA), IEEE Microwave Theory and Techniques Society, 2005, pp. - - - (atti di: IEEE 2005 MTT-S International Microwave Symposium, Long Beach (CA) USA, Jun. 2005) [Contributo in Atti di convegno]

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