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Giorgio Cortelli

Assegnista di ricerca

Dipartimento di Fisica e Astronomia "Augusto Righi"

Temi di ricerca

Parole chiave: Microscopia a Forza Atomica (AFM) Nanoindentazione Materiali Multistrato Simulazione Numerica di Nanoindentazione Array di Microelettrodi 3D Interfacce Bioelettroniche Morbide

  • Studio delle proprietà meccaniche ed elettriche di materiali multistrato tramite prove di nanoindentazione (AFM) 
  • Implementazione di modelli basati sul Metodo degli Elementi Finiti per interpretare le prove sperimentali ed estrarre le proprietà meccaniche dei singoli strati che compongono il campione.
  • Studio delle proprietà meccaniche ed elettriche di array di microelettrodi 3D con AFM.

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