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Federico Giuliano

Dottorando

Dipartimento di Ingegneria dell'Energia Elettrica e dell'Informazione "Guglielmo Marconi"

Assegnista di ricerca

Centro di Ricerca sui Sistemi Elettronici per l'Ingegneria dell'Informazione e delle Telecomunicazioni "Ercole De Castro" - ARCES (Advanced Research Center on Electronic System)

Settore scientifico disciplinare: ING-INF/01 ELETTRONICA

Pubblicazioni

Giuliano F.; Reggiani S.; Gnani E.; Gnudi A.; Rossetti M.; Depetro R.; Croce G., Constant-current time dependent dielectric breakdown in thick amorphous SiO2 capacitors, in: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EuroSOI-ULIS 2021, Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2021, pp. 1 - 4 (atti di: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EuroSOI-ULIS 2021, Caen, Francia, 1-3/09/2021) [Contributo in Atti di convegno]

Giuliano F.; Reggiani S.; Gnani E.; Gnudi A.; Rossetti M.; Depetro R.; Croce G., Novel TCAD Approach for the Investigation of Charge Transport in Thick Amorphous SiO2 Insulators, «IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES», 2021, 68, pp. 5438 - 5447 [articolo]

Giuliano F.; Magnone P.; Pistollato S.; Tallarico A.N.; Reggiani S.; Fiegna C.; Depetro R.; Rossetti M.; Croce G., TCAD simulation of hot-carrier stress degradation in split-gate n-channel STI-LDMOS transistors, «MICROELECTRONICS RELIABILITY», 2020, 109, Article number: 113643, pp. 1 - 5 [articolo]

F. Giuliano, A. N. Tallarico, S. Reggiani, A. Gnudi, E. Sangiorgi, C. Fiegna, M. Rossetti, A. Molfese, S. Manzini, R. Depetro, G. Croce, TCAD predictions of hot-electron injection in p-type LDMOS transistors, in: ESSDERC 2019 49th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2019, pp. 86 - 89 (atti di: ESSDERC 2019, Cracovia, 23-26/09/2019) [Contributo in Atti di convegno]

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