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Enrico Sangiorgi

Professore ordinario

Direttore Dipartimento di Ingegneria dell’Energia Elettrica e dell’Informazione «Guglielmo Marconi»

ING-INF/01 ELETTRONICA


http://www.unibo.it/docenti/enrico.sangiorgi

Pubblicazioni

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P.Palestri, S.Eminente, D.Esseni, C.Fiegna, L.Selmi, E.Sangiorgi, Analysis of Ballistic Transport in MOSFETs along the ITRS Roadmap, in: ULIS 2005, 6th International Conference on ULtimate Integration of Silicon, s.l, s.n, 2005, pp. 57 - 60 (atti di: ULIS 2005, 6th International Conference on ULtimate Integration of Silicon, Bologna, 7-8 Aprile 2005) [atti di convegno-relazione]

E. Sangiorgi, P. Palestri, S. Eminente, D. Esseni, C. Fiegna, L. Selmi, Ballistic effects in advanced MOSFETs along the Roadmap, in: Proceedings of the 4th International Conference on Semiconductor Technology, PENNINGTON, NEW JERSEY, Electrochemical Society Inc., 2005, pp. 42 - 47 (atti di: 4th International Conference on Semiconductor Technology, Shangai, China, 15-17 Marzo 2005) [atti di convegno-relazione]

N. Barin , M. Braccioli , C. Fiegna , E. Sangiorgi, Scaling the High-Performance Double-Gate SOI MOSFET down to the 32 nm Technology Node with SiO2-based Gate Stacks, in: Technical Digest of 2005 IEDM, PISCATAWAY, NJ, IEEE, 2005, pp. 623 - 626 (atti di: International Electron Devices Meeting, Washington, 5 - 7 Dicembre 2005) [atti di convegno-relazione]

C. Fiegna, E. Sangiorgi, ULIS 2005, BOLOGNA, ARCES, Università di Bologna, 2005. [curatela]

Palestri P., Esseni D., Eminente S., Fiegna C., Sangiorgi E., Selmi L., Understandig Quasi-Ballistics Trasport in Nano-MOSFETS: Part I Scattering in the Channel and in the Drain, «IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES», 2005, 52, pp. 2727 - 2735 [articolo]

Eminente S.; Esseni D.; Palestri P.; Fiegna C.; Selmi L.; Sangiorgi E., Understandig quasi-ballistics trasport in nano-MOSFETS: Part II Technology scaling along the ITRS, «IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES», 2005, 52, pp. 2736 - 2743 [articolo]

P. Palestri, D. Esseni, S. Eminente, C. Fiegna, E. Sangiorgi, L. Selmi, A Monte-Carlo study of the role of scattering in deca-nanometer MOSFETs, in: IEEE, IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004, PISCATAWAY, NJ, IEEE, 2004, pp. 605 - 608 [atti di convegno-relazione]

ZAGNONI M.; GOLFARELLI A.; PROLI P.; CALLEGARI S.; TALAMELLI A.; SANGIORGI E.; TARTAGNI M., A non-invasive capacitive sensor strip for aerodynamic pressure measurement, in: VARI, Eurosensors XVIII, book of extended abstracts, ROMA, s.n, 2004(atti di: Eurosensors'04, , Settembre 2004) [atti di convegno-relazione]

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